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高衍射效率连续面形分束器的设计与制备 期刊论文  OAI收割
光子学报, 2019, 卷号: 48, 期号: 7, 页码: 9-16
作者:  
刘文静[1,2,3];  庞辉[1];  曹阿秀[1];  吴育娟[1];  史立芳[1]
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半导体薄膜材料紫外透过率均匀性测试系统 专利  OAI收割
专利号: 200710170724.0, 申请日期: 2009-01-01, 公开日期: 2011-07-06
作者:  
1 苏志国 2许金通 3 张文静 4胡其欣 5袁永刚 6李向阳 7刘骥
  |  收藏  |  浏览/下载:11/0  |  提交时间:2011/07/06