机构

• 新疆理化技术研究所 [5]

采集方式

• OAI收割 [5]

内容类型

• 期刊论文 [5]

发表日期

• 2007 [1]
• 2006 [2]
• 2005 [2]

学科主题

• Engineerin... [1]

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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 双极晶体管不同温度的退火效应与机理 期刊论文  OAI收割 核电子学与探测技术, 2007, 卷号: 27, 期号: 1, 页码: 150-153 作者:  汪东;  陆妩;  任迪远;  李爱武;  匡治兵 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2012/11/29 双极晶体管  退火效应  界面态   总剂量辐照前后CMOS器件阈电压变化的统计分析 期刊论文  OAI收割 核技术, 2006, 卷号: 29, 期号: 9, 页码: 665-669 作者:  李爱武;  余学峰;  任迪远;  汪东;  匡治兵 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2012/11/29 互补型金属-氧化物-半导体(CMOS)器件  总剂量辐照  阈电压  统计   CMOS器件预辐照筛选可行性及方法研究 期刊论文  OAI收割 核电子学与探测技术, 2006, 卷号: 26, 期号: 4, 页码: 470-473,495 作者:  李爱武;  余学峰;  任迪远;  汪东;  匡治兵 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2012/11/29 CMOS  预辐照  筛选  退火   80C31单片机电路总剂量效应研究 期刊论文  OAI收割 微电子学, 2005, 卷号: 35, 期号: 6, 页码: 584-586,590 作者:  匡治兵;  郭旗;  任迪远;  李爱武;  汪东 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/11/29 单片机  60Coγ辐照  辐射损伤  退火   大规模存储器电离辐射试验方法 期刊论文  OAI收割 微电子学, 2005, 期号: 5, 页码: 489-492 作者:  匡治兵;  郭旗;  吾勤之;  任迪远;  陆妩 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2012/11/29 测试方法  电离辐射  总剂量效应  存储器