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西安光学精密机械研究... [3]
高能物理研究所 [1]
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一种测量半导体激光器烧结刻度的装置
专利
OAI收割
专利号: CN209148246U, 申请日期: 2019-07-23, 公开日期: 2019-07-23
作者:
张晨朝
;
吕怡凡
;
陈立红
;
张志鹏
;
薛建飞
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提交时间:2019/12/24
一种自优化散热的双腔室热管
专利
OAI收割
专利号: CN106653713B, 申请日期: 2019-06-14, 公开日期: 2019-06-14
作者:
尧舜
;
罗校迎
;
邱运涛
;
贾冠男
;
成健
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提交时间:2019/12/24
一种GaN基半导体激光芯片检测装置与方法
专利
OAI收割
专利号: CN108318800A, 申请日期: 2018-07-24, 公开日期: 2018-07-24
作者:
尧舜
;
郎陆广
;
兰天
;
周广正
;
吕朝晨
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提交时间:2019/12/30
北京谱仪
期刊论文
OAI收割
高能物理与核物理, 1992, 期号: 9, 页码: 769-787+789
作者:
丁慧良
;
于传松
;
马东红
;
马思成
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提交时间:2015/12/21
北京谱仪
簇射计数器
粲粒子
τ轻子
末态
磁谱仪
荷电粒子
探测效率
低能光子
对撞