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浏览/检索结果: 共65条，第1-10条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 A novel optical subdivision method for dual-frequency interferometer 期刊论文  OAI收割 optik, 2008, 卷号: 119, 期号: 16, 页码: 772, 776 张志平; 程兆谷; 覃兆宇; 朱健强 收藏  |  浏览/下载：1427/351  |  提交时间：2009/09/24 Interferometer  Optical subdivision technique  Fringe  Scale factor   基于光纤复合架空地线的实时雷击定位系统 专利  OAI收割 专利类型: 实用新型, 专利号: ZL200620049186, 申请日期: 2007-12-19, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15 覃兆宇; 程兆谷; 张志平 收藏  |  浏览/下载：36/2  |  提交时间：2011/07/14 飞行光学聚焦特性控制系统 专利  OAI收割 专利类型: 实用新型, 专利号: ZL200620040011.3, 申请日期: 2007-02-07, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15 程兆谷; 崔品静; 张志平 收藏  |  浏览/下载：41/4  |  提交时间：2011/07/14 基于高精度差动干涉仪的微伽重力仪 期刊论文  OAI收割 Chin. Opt. Lett., 2007, 卷号: 5, 期号: 6, 页码: 344, 346 张志平; 程兆谷; 覃兆宇; 朱健强 收藏  |  浏览/下载：927/163  |  提交时间：2009/09/24 绝对重力仪  Distance measurement  差动干涉仪  Mach-Zehnder interferometers  自由落体  不确定度   偏振光斯托克斯参量的高速实时测量技术 期刊论文  OAI收割 光学学报, 2007, 卷号: 27, 期号: 4, 页码: 659, 662 覃兆宇; 程兆谷; 张志平; 朱健强 收藏  |  浏览/下载：1144/229  |  提交时间：2009/09/24 导波光学  guided-wave optics  偏振态高速测量  high-speed measurement of polarized state  多通道  multi-channel  庞加莱球  Poincaré sphere  斯托克斯参量  Stokes parameters   加速度对激光双频干涉仪测量误差的影响 期刊论文  OAI收割 中国激光, 2007, 卷号: 34, 期号: 5, 页码: 694, 698 张志平; 程兆谷; 覃兆宇; 朱健强 收藏  |  浏览/下载：1335/213  |  提交时间：2009/09/24 测量  measurement  激光双频干涉仪  laser dual-frequency interferometer  加速度  acceleration  累积误差  cumulative error  多普勒频移  Doppler frequency shift   Modelling and simulation of the second-order Doppler error of a laser dual-frequency interferometer 期刊论文  OAI收割 meas. sci. technol., 2007, 卷号: 18, 期号: 7, 页码: 1848, 1852 张志平; 程兆谷; 覃兆宇; 朱健强 收藏  |  浏览/下载：1202/341  |  提交时间：2009/09/24 laser dual-frequency interferometer  Doppler frequency shift  error  velocity  acceleration   双频激光干涉仪的最大可测量速度研究 期刊论文  OAI收割 Chin. Opt. Lett., 2007, 卷号: 5, 期号: 4, 页码: 208, 210 张志平; 程兆谷; 覃兆宇; 朱健强 收藏  |  浏览/下载：1370/230  |  提交时间：2009/09/24 测量  Light measurement  双频激光干涉仪  Light sources  最大可测量速度  自由落体   双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置 专利  OAI收割 专利类型: 发明, 专利号: ZL200410053304, 申请日期: 2006-12-27, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15 程兆谷; 高海军 收藏  |  浏览/下载：25/1  |  提交时间：2011/07/14 倾斜入射光散射式硅片表面缺陷检测仪 专利  OAI收割 专利类型: 实用新型, 专利号: ZL200520045038.7, 申请日期: 2006-10-04, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15 程兆谷; 高海军; 覃兆宇; 张志平; 黄惠杰; 钱红斌 收藏  |  浏览/下载：58/2  |  提交时间：2011/07/14