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微电子研究所 [3]
采集方式
OAI收割 [3]
内容类型
会议论文 [1]
学位论文 [1]
期刊论文 [1]
发表日期
2014 [2]
2013 [1]
学科主题
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共3条,第1-3条
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Comparison between N2 and O2 anneals on the integrity of an Al2O3/Si3N4/SiO2/Si memory gate stack
期刊论文
OAI收割
Chinese Physics B, 2014
作者:
Chu YQ(褚玉琼)
;
Zhang MH(张满红)
;
Huo ZL(霍宗亮)
;
Liu M(刘明)
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提交时间:2015/04/15
不同退火条件下电荷俘获存储器的可靠性研究
学位论文
OAI收割
: 中国科学院大学, 2014
作者:
褚玉琼
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2017/09/29
Comparison of N2 and O2 anneal on the integrity of Al2O3/ Si3N4 /SiO2/Si memory gate stack”, international conference on nanoscience &technology
会议论文
OAI收割
作者:
Chu YQ(褚玉琼)
;
Huo ZL(霍宗亮)
;
Liu M(刘明)
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2014/10/22