机构

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采集方式

• OAI收割 [69]

内容类型

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发表日期

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学科主题

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• 环境科学::环境化学 [1]

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浏览/检索结果: 共69条，第1-10条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Self-Immolated Nanoadjuvant for In Situ Vaccination Immunotherapy of Colorectal Cancer 期刊论文  OAI收割 ADVANCED HEALTHCARE MATERIALS, 2023, 页码: 13 作者:  Wang, Weiqi;  Zhu, Qiwen;  Jin, Yilan;  Gao, Jing;  Li, Jianan   |  收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2023/10/17 antigen presentation  immunogenic cell death  nanoadjuvant  photodynamic therapy  vaccination immunotherapy   Engineered bioorthogonal POLY-PROTAC nanoparticles for tumour-specific protein degradation and precise cancer therapy 期刊论文  OAI收割 NATURE COMMUNICATIONS, 2022, 卷号: 13, 期号: 1, 页码: 14 作者:  Gao, Jing;  Hou, Bo;  Zhu, Qiwen   |  收藏  |  浏览/下载：60/0  |  提交时间：2022/08/30 1/f Noise responses of Ultra-Thin Body and Buried oxide FD-SOI PMOSFETs under total ionizing dose irradiation 期刊论文  OAI收割 RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2022, 卷号: 176, 期号: 11-12, 页码: 1202-1214 作者:  Zhang, RQ (Zhang, Ruiqin) [1] , [2] , [3];  Zheng, QW (Zheng, Qiwen) [1] , [2];  Lu, W (Lu, Wu) [1] , [2];  Cui, JW (Cui, Jiangwei) [1] , [2];  Li, YD (Li, Yudong) [1] , [2]   |  收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2022/04/07 Total ionizing dose irradiation  UTBB FD-SOI  1  f noise   全息位置地图数据内容 标准  OAI收割 标准类型: 国家标准, 起草者: 国家市场监督管理总局, 国家标准化管理委员会, 出版者: 全国地理信息标准化技术委员会(SAC/TC 230), 2021 作者:  李霖;  苏飞;  翁敏;  宋晓燕;  李宏利   |  收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2023/05/17 一种抗辐射加固SOI材料的总剂量辐射性能评估方法 专利  OAI收割 申请日期: 2021-02-19, 作者:  郑齐文;  崔江维;  余学峰;  李豫东;  郭旗   |  收藏  |  浏览/下载：41/0  |  提交时间：2021/12/02 一种总剂量效应与工艺波动耦合的电路仿真方法 专利  OAI收割 申请日期: 2021-01-12, 作者:  郑齐文;  崔江维;  李小龙;  魏莹;  余学峰   |  收藏  |  浏览/下载：41/0  |  提交时间：2021/12/02 一种电路级总剂量辐射效应仿真方法 专利  OAI收割 申请日期: 2021-01-12, 作者:  郑齐文;  崔江维;  李小龙;  魏莹;  余学峰   |  收藏  |  浏览/下载：32/0  |  提交时间：2021/12/02 Impact of TID on Within-Wafer Variability of Radiation-Hardened SOI Wafers 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, 卷号: 68, 期号: 7, 页码: 1423-1429 作者:  Zheng, QW (Zheng, Qiwen) 1;  Cui, JW (Cui, Jiangwei) 1;  Yu, XF (Yu, Xuefeng) 1;  Li, YD (Li, Yudong) 1;  Lu, W (Lu, Wu) 1   |  收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2021/08/06 Radiation-hardened (RH)silicon-on-insulator (SOI)total ionizing dose (TID)within-wafer variability   Measurement and Evaluation of the Within-Wafer TID Response Variability on BOX Layer of SOI Technology 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, 卷号: 68, 期号: 10, 页码: 2516-2523 作者:  Zheng, QW (Zheng, Qiwen) 1Cui, JW (Cui, Jiangwei) 1Yu, XF (Yu, Xuefeng) 1;  Li, YD (Li, Yudong) 1;  Lu, W (Lu, Wu) 1;  He, CF (He, Chengfa) 1;  Guo, Q (Guo, Qi) 1   |  收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2021/12/06 Threshold voltage  TestingMOSFET circuits  Transistors  Standards  Logic gates  Fluctuations  Buried oxide (BOX)  silicon-on-insulator (SOI)  total ionizing dose (TID)   一种基于阈值电压类型匹配的6-T存储单元抗总剂量加固方法 专利  OAI收割 申请日期: 2020-04-14, 作者:  郑齐文;  崔江维;  余学峰;  陆妩;  孙静   |  收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2020/11/25