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半导体激光器可靠性检测分析方法及其装置 专利  OAI收割
专利号: CN1050454C, 申请日期: 2000-03-15, 公开日期: 2000-03-15
作者:  
石家纬;  金恩顺;  李正庭;  李红岩;  郭树旭
  |  收藏  |  浏览/下载:15/0  |  提交时间:2019/12/26
电导数测试用于大功率半导体激光器的快速筛选 期刊论文  OAI收割
中国激光, 1999, 卷号: 16, 期号: 6, 页码: 507
李红岩; 石家纬; 金恩顺; 齐丽云; 李正庭; 高鼎三; 肖建伟; 刘宗顺
收藏  |  浏览/下载:16/0  |  提交时间:2010/11/23
聚(对-苯撑乙烯)衍生物蓝色发光二极管及平面显示 期刊论文  OAI收割
中国科学(B辑), 1997, 卷号: 27, 期号: 6, 页码: 538-543
马东阁; 赵晓江; 洪志勇; 王岱珂; 王淑彬; 景遐斌; 王佛松; 石家纬; 金恩顺; 向海洲; 李淑文; 刘明大
收藏  |  浏览/下载:177/36  |  提交时间:2010/12/22
一个检测半导体激光器质量的有效方法 期刊论文  OAI收割
半导体学报, 1996, 卷号: 17, 期号: 8, 页码: 595
石家纬; 金恩顺; 李红岩; 李正庭; 郭树旭; 高鼎三; 余金中; 郭良
收藏  |  浏览/下载:54/0  |  提交时间:2010/11/23