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机构
西安光学精密机械研究... [5]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
专利 [5]
发表日期
2019 [1]
2013 [1]
2012 [1]
2008 [1]
2006 [1]
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共5条,第1-5条
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Semiconductor laser and inspection device
专利
OAI收割
专利号: WO2019187666A1, 申请日期: 2019-10-03, 公开日期: 2019-10-03
作者:
KAGEYAMA, TAKEO
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提交时间:2019/12/31
Surface emitting laser, surface emitting laser array, light source and optical module
专利
OAI收割
专利号: US8494022, 申请日期: 2013-07-23, 公开日期: 2013-07-23
作者:
SHIMIZU, HITOSHI
;
KAGEYAMA, TAKEO
;
TAKAKI, KEISHI
;
IWAI, NORIHIRO
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提交时间:2019/12/26
Testing method of surface-emitting laser device and testing device thereof
专利
OAI收割
专利号: US8178364, 申请日期: 2012-05-15, 公开日期: 2012-05-15
作者:
HIRAIWA, KOJI
;
KAGEYAMA, TAKEO
;
IWAI, NORIHIRO
;
TAKAKI, KEISHI
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提交时间:2019/12/23
Surface emitting laser device
专利
OAI收割
专利号: US7418020, 申请日期: 2008-08-26, 公开日期: 2008-08-26
作者:
HIRAIWA, KOJI
;
KAGEYAMA, TAKEO
;
IWAI, NORIHIRO
;
TAKAKI, KEISHI
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提交时间:2019/12/26
Vertical cavity surface emitting laser device having a higher optical output power
专利
OAI收割
专利号: US20060193361A1, 申请日期: 2006-08-31, 公开日期: 2006-08-31
作者:
CASIMIRUS, SETIAGUNG
;
KAGEYAMA, TAKEO
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提交时间:2019/12/31