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• 西安光学精密机械研究... [5]

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• 专利 [5]

发表日期

• 2018 [1]
• 2004 [2]
• 2000 [1]
• 1999 [1]

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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序 Vcsel based optical links in burst mode 专利  OAI收割 专利号: US20180287707A1, 申请日期: 2018-10-04, 公开日期: 2018-10-04 作者:  CEVRERO, ALESSANDRO;  KUCHTA, DANIEL M.;  MENOLFI, CHRISTIAN I.;  MORF, THOMAS E.;  OZKAYA, ILTER   |  收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2019/12/30 Guides lithographically fabricated on semiconductor devices 专利  OAI收割 专利号: US6798953, 申请日期: 2004-09-28, 公开日期: 2004-09-28 作者:  COHEN, MITCHELL S.;  CORDES, MICHAEL J.;  CORDES, STEVEN A.;  HOGAN, WILLIAM K.;  JOHNSON, GLEN W.   |  收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2019/12/26 Guides lithographically fabricated on semiconductor devices 专利  OAI收割 专利号: US6798953, 申请日期: 2004-09-28, 公开日期: 2004-09-28 作者:  COHEN, MITCHELL S.;  CORDES, MICHAEL J.;  CORDES, STEVEN A.;  HOGAN, WILLIAM K.;  JOHNSON, GLEN W.   |  收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2019/12/26 Method of semiconductor wafer testing 专利  OAI收割 专利号: US6013537, 申请日期: 2000-01-11, 公开日期: 2000-01-11 作者:  KUCHTA, DANIEL M.   |  收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2019/12/24 Semiconductor wafer testing method and apparatus 专利  OAI收割 专利号: US5891746, 申请日期: 1999-04-06, 公开日期: 1999-04-06 作者:  KUCHTA, DANIEL M.   |  收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/26