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新疆理化技术研究所 [3]
金属研究所 [2]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2012 [1]
2011 [1]
2010 [1]
2008 [2]
学科主题
Nuclear Sc... [1]
Physics [1]
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Total dose ionizing irradiation effects on a static random access memory field programmable gate array
期刊论文
OAI收割
Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 3
作者:
Gao, Bo
;
Yu, Xuefeng
;
Ren, Diyuan
;
Li, Yudong
;
Sun, Jing
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提交时间:2014/11/11
Double humps and radiation effects of SOI NMOSFET
期刊论文
OAI收割
Journal of Semiconductors, 2011, 卷号: 32, 期号: 6
作者:
Cui, Jiangwei
;
Yu, Xuefeng
;
Ren, Diyuan
;
He, Chengfa
;
Gao, Bo
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提交时间:2014/11/11
Ionizing radiation effect on 10-bit bipolar A/D converter
期刊论文
OAI收割
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2010, 卷号: 21, 期号: 3, 页码: 152-156
作者:
Chen Rui
;
Lu Wu
;
Ren Diyuan
;
Zheng Yuzhan
;
Wang Yiyuan
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提交时间:2012/11/29
Bipolar Analog to Digital converters
(60)Co gamma Radiation
ELDRS
Bias condition
Numerical analysis of tunnel reinforcing influences on failure process of surrounding rock under explosive stress waves
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF CENTRAL SOUTH UNIVERSITY OF TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 15, 期号: 5, 页码: 632-638
作者:
Zuo Yujun
;
Tang Chunan
;
Zhu Wancheng
;
Li Diyuan
;
Li Shucai
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提交时间:2021/02/02
MODEL
tunnel reinforcing
numerical simulation
explosive stress wave
failure process
inhomogeneity
Numerical analysis of tunnel reinforcing influences on failure process of surrounding rock under explosive stress waves
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF CENTRAL SOUTH UNIVERSITY OF TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 15, 期号: 5, 页码: 632-638
作者:
Zuo Yujun
;
Tang Chunan
;
Zhu Wancheng
;
Li Diyuan
;
Li Shucai
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提交时间:2021/02/02
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tunnel reinforcing
numerical simulation
explosive stress wave
failure process
inhomogeneity