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Measurement of crystal thickness and orientation from selected-area Fourier transformation of a high-resolution electron hologram 期刊论文  OAI收割
MICRON, 2006, 卷号: 37, 期号: 1, 页码: 67-72
作者:  Du, K;  Wang, YM;  Lichte, H;  Ye, HQ
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Measurement of crystal thickness and orientation from selected-area Fourier transformation of a high-resolution electron hologram 期刊论文  OAI收割
MICRON, 2006, 卷号: 37, 期号: 1, 页码: 67-72
作者:  Du, K;  Wang, YM;  Lichte, H;  Ye, HQ
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Measurement of crystal thickness and orientation from selected-area Fourier transformation of a high-resolution electron hologram 期刊论文  OAI收割
MICRON, 2006, 卷号: 37, 期号: 1, 页码: 67-72
作者:  Du, K;  Wang, YM;  Lichte, H;  Ye, HQ
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Correction of aberration for a high-resolution electron hologram by means of the amplitude contrast criterion of image wave 期刊论文  OAI收割
Micron, 2002, 卷号: 33, 期号: 1, 页码: 15-21
Y. M. Wang; K. Du; H. Q. Ye; H. Lichte
收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/04/14