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光电技术研究所 [3]
采集方式
OAI收割 [3]
内容类型
会议论文 [2]
期刊论文 [1]
发表日期
2018 [1]
2015 [1]
2014 [1]
学科主题
Aberration... [1]
Aberration... [1]
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共3条,第1-3条
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Wavefront-aberration measurement and systematic-error analysis of a high numerical-aperture objective
期刊论文
OAI收割
Optical Engineering, 2018, 卷号: 57, 期号: 2, 页码: 024107
作者:
Liu, Zhixiang
;
Xing, Tingwen
;
Jiang, Yadong
;
Lv, Baobin
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浏览/下载:33/0
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提交时间:2019/08/23
Diffraction
Diffraction gratings
Interferometers
Ray tracing
Shearing
Systematic errors
Wavefronts
Two-dimension lateral shearing interferometry with dual-mode
会议论文
OAI收割
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2015
作者:
Liu, Zhixiang
;
Xin, Tingwen
;
Jiang, Yadong
;
Lv, Baobin
;
Xu, Fuchao
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2016/11/23
Two-dimension lateral shearing interferometry for microscope objective wavefront metrology
会议论文
OAI收割
Proceedings of SPIE: Optical Design and Testing VI, 2014
作者:
Liu, Zhixiang
;
Xing, Tingwen
;
Jiang, Yadong
;
Lv, Baobin
;
Xu, Fuchao
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2016/11/23