机构

• 半导体研究所 [4]

采集方式

• iSwitch采集 [2]
• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [4]

发表日期

• 2003 [2]
• 2002 [2]

学科主题

• 半导体物理 [2]

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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序 A novel method of determining semiconductor parameters in ebic and sebiv modes of sem 期刊论文  iSwitch采集 Semiconductor science and technology, 2003, 卷号: 18, 期号: 4, 页码: 361-366 作者:  Zhu, SQ;  Rau, EI;  Yang, FH 收藏  |  浏览/下载：32/0  |  提交时间：2019/05/12 A novel method of determining semiconductor parameters in EBIC and SEBIV modes of SEM 期刊论文  OAI收割 semiconductor science and technology, 2003, 卷号: 18, 期号: 4, 页码: 361-366 Zhu SQ; Rau EI; Yang FH 收藏  |  浏览/下载：131/0  |  提交时间：2010/08/12 SURFACE RECOMBINATION VELOCITY  DIFFUSION LENGTH  LINE SCAN  EXTRACTION   A novel contactless method for characterization of semiconductors: surface electron beam induced voltage in scanning electron microscopy 期刊论文  iSwitch采集 Chinese physics letters, 2002, 卷号: 19, 期号: 9, 页码: 1329-1332 作者:  Zhu, SQ;  Rau, EI;  Yang, FH;  Zheng, HZ 收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2019/05/12 A novel contactless method for characterization of semiconductors: Surface electron beam induced voltage in scanning electron microscopy 期刊论文  OAI收割 chinese physics letters, 2002, 卷号: 19, 期号: 9, 页码: 1329-1332 Zhu SQ; Rau EI; Yang FH; Zheng HZ 收藏  |  浏览/下载：56/0  |  提交时间：2010/08/12