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Imaging of three-dimensional objects in emission electron microscopy 期刊论文  OAI收割
journal of microscopy-oxford, 2001, 卷号: 202, 页码: 480-487
作者:  Nepijko, SA;  Sedov, NN;  Schmidt, O;  Schonhense, G;  Bao, X
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Resolution deterioration in emission electron microscopy due to object roughness 期刊论文  OAI收割
annalen der physik, 2000, 卷号: 9, 期号: 6, 页码: 441-451
作者:  Nepijko, SA;  Sedov, NN;  Schonhense, G;  Escher, M;  Bao, XH
收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2010/11/30