中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
上海光学精密机械研究... [2]
新疆生态与地理研究所 [1]
中国科学院大学 [1]
生态环境研究中心 [1]
采集方式
OAI收割 [4]
iSwitch采集 [1]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2014 [1]
2012 [1]
2009 [3]
学科主题
光学 [1]
激光技术::光检测技... [1]
筛选
浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
Tuning Cell Autophagy by Diversifying Carbon Nanotube Surface Chemistry
期刊论文
OAI收割
ACS NANO, 2014, 卷号: 8, 期号: 3, 页码: 2087-2099
Wu, Ling
;
Zhang, Yi
;
Zhang, Chengke
;
Cui, Xuehui
;
Zhai, Shumei
;
Liu, Yin
;
Li, Changlong
;
Zhu, Hao
;
Qu, Guangbo
;
Jiang, Guibin
;
Yan, Bing
收藏
  |  
浏览/下载:43/0
  |  
提交时间:2015/03/24
carbon nanotube
surface modification
mTOR
autophagy
combinatorial library
signaling pathway
新疆阿尔泰托莫尔特铁(锰)矿床成矿流体研究/A study of ore-forming fluids of Tuomoerte Fe-(Mn) deposit in Altay, Xinjiang[J]
期刊论文
OAI收割
矿床地质, 2012, 卷号: 31, 期号: 5, 页码: 1025-1037
作者:
张志欣
;
杨富全
;
黄承科
;
刘锋
;
柴凤梅
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2017/12/29
地球化学 成矿流体 氢氧同位素 铁(锰)矿 托莫尔特 阿尔泰
Theoretical model and quantification of reflectance photometer
期刊论文
iSwitch采集
Chinese optics letters, 2009, 卷号: 7, 期号: 11, 页码: 1031-1034
作者:
Huang, Lihua
;
Zhang, Youbao
;
Xie, Chengke
;
Qu, Jianfeng
;
Huang, Huijie
收藏
  |  
浏览/下载:27/0
  |  
提交时间:2019/05/10
Theoretical model and quantif ication of reflectance photometer
期刊论文
OAI收割
chinese optics letters, 2009, 卷号: 7, 期号: 11
Lihua Huang
;
Youbao Zhang
;
Chengke Xie
;
Jianfeng Qu
;
Huijie Huang
;
Xiangzhao Wang
收藏
  |  
浏览/下载:927/211
  |  
提交时间:2010/04/26
Scattering performance analysis of reflectance photometer for quantifying gold labeled test strips
期刊论文
OAI收割
2008 international conference on optical instruments and technology, 2009, 期号: 7156
Lihua Huang
;
Youbao Zhang
;
Chengke Xie
;
Jianfeng Qu
;
Huijie Huang
;
Xiangzhao Wang
收藏
  |  
浏览/下载:1080/290
  |  
提交时间:2010/05/13
nanogold particles
immunochromatographic strip
Mie’s scattering theory
Lambert cosine law
reflectance photometer