机构

• 沈阳自动化研究所 [2]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2003 [2]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序 BIST技术及其在Memory中的应用 期刊论文  OAI收割 仪器仪表学报, 2003, 卷号: 24, 期号: S2, 页码: 633-634，637 作者:  马纪虎;  汪滢;  李晓宁;  王宏   |  收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2010/11/29 内建自检测  线性反馈移位寄存器  特征分析  Memory   BIST可测性设计的低功耗技术 期刊论文  OAI收割 仪器仪表学报, 2003, 卷号: 24, 期号: S2, 页码: 629-630，632 作者:  汪滢;  辛晓宁;  李金凤   |  收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2010/11/29 内建自检测  片上系统  可测性  低功耗  故障覆盖率