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碳化硅功率MOSFET的工作状态对电离辐射损伤特性的影响研究 学位论文  OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2021
作者:  
杨圣
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国产VDMOS电离辐射环境中的敏感参数研究 期刊论文  OAI收割
核技术, 2008, 卷号: 31, 期号: 8, 页码: 3,613-615
作者:  
刘刚;  蔡小五;  韩郑生;  陆江;  王立新
  |  收藏  |  浏览/下载:13/0  |  提交时间:2010/05/27
一种抗辐照功率MOSFET器件 期刊论文  OAI收割
核电子学与探测技术, 2008, 卷号: 28, 期号: 6, 页码: 4,1167-1170
作者:  
王立新;  夏洋;  蔡小五;  刘刚;  韩郑生
  |  收藏  |  浏览/下载:34/0  |  提交时间:2010/05/27
星用功率MOSFET器件单粒子烧毁试验研究 期刊论文  OAI收割
原子能科学技术, 2008, 卷号: 42, 期号: 12, 页码: 5,1125-1129
作者:  
薛玉雄;  陆江;  蔡小五;  刘刚;  杨世宇
  |  收藏  |  浏览/下载:17/0  |  提交时间:2010/05/27