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• 计算技术研究所 [4]

采集方式

• OAI收割 [4]

内容类型

• 期刊论文 [4]

发表日期

• 2015 [1]
• 2012 [1]
• 2011 [1]
• 2003 [1]

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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 基于扫描链的可编程片上调试系统 期刊论文  OAI收割 高技术通讯, 2015, 卷号: 000, 期号: 006, 页码: 584 作者:  陈华军;  娄卓阳;  王焕东;  刘慧;  王琳   |  收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2023/12/04 硅后调试  片上调试系统  可编程  可调试性设计  故障诊断  实速测试   超大规模集成电路可调试性设计综述 期刊论文  OAI收割 计算机研究与发展, 2012, 卷号: 49.0, 期号: 1.0, 页码: 21 作者:  钱诚;  沈海华;  陈天石;  陈云霁   |  收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2023/12/04 调试  验证  硅后验证  并行程序调试  可调试性设计   一种面向多核处理器的通用可调试性架构 期刊论文  OAI收割 计算机辅助设计与图形学学报, 2011, 卷号: 23.0, 期号: 010, 页码: 1656 作者:  杨旭;  刘江;  钱诚;  苏孟豪;  吴瑞阳   |  收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2023/12/04 多核  片上网络  可调试性设计  硅后调试   VLSI芯片的可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计 期刊论文  OAI收割 计算机工程与科学, 2003, 卷号: 25.0, 期号: 1.0, 页码: 92 作者:  沈理   |  收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04 VLSI芯片  可测试性  可调试性  可制造性  可维护性  设计  超大规模集成电路