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• 计算技术研究所 [3]

采集方式

• OAI收割 [3]

内容类型

• 期刊论文 [3]

发表日期

• 2003 [2]
• 2002 [1]

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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 一种遵循IEEE 1149．1标准的可测试性设计结构 期刊论文  OAI收割 微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23 作者:  尹志刚;  李华伟;  李晓维   |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04 IEEE1149.1标准  国际标准  可测试性设计结构  时序电路   测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响 期刊论文  OAI收割 微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 52 作者:  骆祖莹;  李晓维;  洪先龙   |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04 功耗  海明距离  集成电路  向量测试  电路功耗  时序电路   有限状态机的行为阶段聚类及其对测试的应用 期刊论文  OAI收割 中国科学：E辑, 2002, 卷号: 32.0, 期号: 006, 页码: 846 作者:  李华伟;  闵应骅;  李忠诚   |  收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2023/12/04 行为阶段聚类  有限状态机  行为描述  测试产生系统  数学模型  状态转换函数  时序电路