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• 计算技术研究所 [4]

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• OAI收割 [4]

内容类型

• 期刊论文 [4]

发表日期

• 2004 [1]
• 2003 [1]
• 2002 [2]

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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 一个适于形式验证的ATPG引擎 期刊论文  OAI收割 计算机研究与发展, 2004, 卷号: 41.0, 期号: 005, 页码: 886 作者:  李光辉;  邵明;  李晓维   |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04 组合电路  测试产生  形式验证  二叉判决图  布尔可满足性   一种低功耗BIST测试产生器方案 期刊论文  OAI收割 微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36 作者:  何蓉晖   |  收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2023/12/04 BIST  低功耗设计  内建自测试  测试产生器  线性反馈移位寄存器  集成电路   基于RTL行为模型的测试产生及时延测试方法 期刊论文  OAI收割 中国科学院研究生院学报, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 002, 页码: 198 作者:  李华伟   |  收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2023/12/04 RTL行为模型  测试产生  时延测试  寄存器传输级  有限状态机  自动测试向量产生  故障诊断  集成电路测试   有限状态机的行为阶段聚类及其对测试的应用 期刊论文  OAI收割 中国科学：E辑, 2002, 卷号: 32.0, 期号: 006, 页码: 846 作者:  李华伟;  闵应骅;  李忠诚   |  收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2023/12/04 行为阶段聚类  有限状态机  行为描述  测试产生系统  数学模型  状态转换函数  时序电路