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	空间辐射环境下 SiC MOSFET 的栅氧可靠性研究学位论文 OAI收割中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2020 作者: 梁晓雯 \| 收藏 \| 浏览/下载：55/0 \| 提交时间：2020/11/19 SiC MOSFET 栅氧可靠性总剂量效应单粒子效应潜损伤安全工作区
	快重离子在聚合物潜径迹中引起的损伤效应研究期刊论文 OAI收割核技术, 2007, 卷号: 2007, 期号: 04, 页码: 342-346 孙友梅; 刘杰; 王志光; 张崇宏; 侯明东; 金运范; 段敬来; 宋银; 薛智浩 \| 收藏 \| 浏览/下载：8/0 \| 提交时间：2010/10/29 快重离子聚合物潜径迹损伤效应
	辐射损伤潜径迹的纳米尺度观测研究期刊论文 OAI收割原子能科学技术, 2002, 期号: 6, 页码: 564-568 作者: 翟鹏济; 唐孝威收藏 \| 浏览/下载：13/0 \| 提交时间：2015/12/25 扫描隧道显微镜扫描力显微镜辐射损伤潜径迹损伤参数损伤机制
	电子能损引起的潜径迹期刊论文 OAI收割核技术, 1999, 期号: 07 侯明东; 刘杰; 李保权 \| 收藏 \| 浏览/下载：17/0 \| 提交时间：2011/09/23 电子能损潜径迹损伤缺陷