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LDD结构参数对多晶硅薄膜晶体管热载流子退化的影响 期刊论文  OAI收割
液晶与显示, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 4,692-695
作者:  
吕志娟;  韩郑生;  钟传杰
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先进集成电路器件可靠性-高压N型器件热载流子效应和先进表征技术 学位论文  OAI收割
博士: 中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所)  , 2008
戴明志
收藏  |  浏览/下载:89/0  |  提交时间:2012/03/06