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计算技术研究所 [3]
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基于极小碰集求解算法的测试向量集约简
期刊论文
OAI收割
计算机研究与发展, 2019, 卷号: 56.0, 期号: 011, 页码: 2448
作者:
欧阳丹彤
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陈晓艳
;
叶靖
;
邓召勇
;
张立明
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2023/12/04
电路测试
自动测试向量生成
测试向量集
约简
故障覆盖率
极小碰集
固定型故障
数字电路测试压缩方法研究
期刊论文
OAI收割
中国科学院研究生院学报, 2007, 卷号: 24.0, 期号: 006, 页码: 847
作者:
HAN YinHe
;
LI XiaoWei
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收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2023/12/04
系统芯片
测试激励压缩
测试响应压缩
扫描设计
自动测试向量生成(ATPG)
不关心位
未知位
卷积编码
寄存器传输级测试用例生成算法
期刊论文
OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2005, 卷号: 17, 期号: 9
作者:
沈理
;
高燕
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2010/11/24
集成电路
自动测试生成
寄存器传输级
测试用例
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