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空间高能粒子对纳米器件栅介质可靠性影响的研究 学位论文  OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2018
作者:  
马腾
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质子辐照对130nm部分耗尽SOI MOS器件栅氧经时击穿可靠性的影响 期刊论文  OAI收割
现代应用物理, 2018, 卷号: 8, 期号: 4
作者:  
马腾;  崔江维;  郑齐文;  魏莹;  赵京昊
  |  收藏  |  浏览/下载:50/0  |  提交时间:2018/07/20