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部分耗尽绝缘层附着硅静态随机存储器总剂量辐射损伤效应的研究 期刊论文  OAI收割
物理学报, 2012, 卷号: 61, 期号: 10, 页码: 323-329
作者:  
李明;  余学峰;  薛耀国;  卢健;  崔江维
收藏  |  浏览/下载:36/0  |  提交时间:2012/11/29