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8T CMOS图像传感器质子辐照效应研究(英文) 期刊论文  OAI收割
原子能科学技术, 2021, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 2128-2134
作者:  
傅婧1,2,3;  李豫东1,2;  冯婕1,2;  文林1,2;  郭旗1,2
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3T和4T-CMOS图像传感器空间辐射效应及损伤机理研究 学位论文  OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2016
作者:  
  |  收藏  |  浏览/下载:102/0  |  提交时间:2016/09/27