中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
上海应用物理研究所 [3]
采集方式
OAI收割 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2020 [1]
2019 [2]
学科主题
筛选
浏览/检索结果:
共3条,第1-3条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
Influence of diffuser grain size on the speckle tracking technique
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION, 2020, 卷号: 27, 页码: 146-157
作者:
Tian, NX
;
Jiang, H
;
Li, AG
;
Liang, DX
;
Yan, S
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:36/0
  |  
提交时间:2021/09/06
AT-WAVELENGTH METROLOGY
PHASE RETRIEVAL
A piezoelectric deformable X-ray mirror for phase compensation based on global optimization
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION, 2019, 卷号: 26, 期号: -, 页码: 729—736
作者:
Jiang, H
;
Tian, NX
;
Liang, DX
;
Du, GH
;
Yan, S
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:49/0
  |  
提交时间:2019/12/30
AT-WAVELENGTH METROLOGY
IN-SITU METROLOGY
Extraction of medium-spatial-frequency interfacial waviness and inner structure from X-ray multilayers using the speckle scanning technique
期刊论文
OAI收割
OPTICAL MATERIALS EXPRESS, 2019, 卷号: 9, 期号: 7, 页码: 2878-2891
作者:
Jiang, H
;
Ya, S
;
Tian, NX
;
Liang, DX
;
Dong, ZH
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:22/0
  |  
提交时间:2020/10/16
AT-WAVELENGTH METROLOGY
SYNCHROTRON-RADIATION
TOTAL-REFLECTION
ROUGHNESS
FILMS
FIELD
CR/C