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机构
金属研究所 [2]
半导体研究所 [2]
物理研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2012 [1]
2006 [1]
1998 [1]
1997 [1]
1991 [1]
学科主题
半导体材料 [1]
半导体物理 [1]
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共5条,第1-5条
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Field electron emission based on resonant tunneling in diamond/CoSi2/Si quantum well nanostructures
期刊论文
OAI收割
SCIENTIFIC REPORTS, 2012, 卷号: 2
Gu, CZ
;
Jiang, X
;
Lu, WG
;
Li, JJ
;
Mantl, S
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提交时间:2013/09/17
VAPOR-DEPOSITED DIAMOND
COLD CATHODES
THIN-FILMS
COSI2
MECHANISM
SURFACES
EMITTER
GROWTH
Internal stress and adhesion of Cu film/Si prepared by both MEVVA and IBAD
期刊论文
OAI收割
Surface & Coatings Technology, 2006, 卷号: 201, 期号: 3-4, 页码: 1243-1249
M. Yu
;
J. Z. Zhang
;
D. X. Li
;
Q. L. Meng
;
W. Z. Li
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提交时间:2012/04/14
MEVVA
IBAD
copper film
compressive stress
adhesion
deposited thin-films
intrinsic stress
residual-stress
cosi2 films
bombardment
diamond
Structural study of YSi1.7 layers formed by channeled ion beam synthesis
期刊论文
OAI收割
journal of vacuum science & technology b, 1998, 卷号: 16, 期号: 4, 页码: 1901-1906
Wu MF
;
Yao SD
;
Vantomme A
;
Hogg S
;
Pattyn H
;
Langouche G
;
Yang QQ
;
Wang QM
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浏览/下载:41/0
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提交时间:2010/08/12
YTTRIUM-SILICIDE LAYERS
ERSI1.7 LAYERS
COSI2 LAYERS
THIN-FILMS
IMPLANTATION
SI
DIFFRACTION
STABILITY
KINETICS
SI(111)
Continuous CoSi2 layers in silicon synthesized by Co-ion implantation
期刊论文
OAI收割
Materials Letters, 1997, 卷号: 32, 期号: 2-3, 页码: 121-126
J. Z. Zhang
;
X. Y. Ye
;
J. Chang
;
S. Bernard
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提交时间:2012/04/14
silicide
cobalt
CoSi2
ion implantation
buried cosi2
beam synthesis
beta-fesi2
growth
INTERACTION OF CO WITH SI AND SIO2 DURING RAPID THERMAL ANNEALING
期刊论文
OAI收割
journal of applied physics, 1991, 卷号: 69, 期号: 11, 页码: 7612-7619
CHEN WD
;
CUI YD
;
HSU CC
;
TAO J
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提交时间:2010/11/15
GROWTH
SILICIDES
KINETICS
CRYSTAL
SILICON
FILMS
COSI2
CO2SI
TI