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Influence of edge effects on single event upset susceptibility of SOI SRAMs 期刊论文  OAI收割
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2015, 卷号: 342, 页码: 286-291
作者:  Xi, Kai;  Liu, Gang;  Hou, Mingdong;  Geng, Chao;  Bi, Jinshun
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