机构

• 高能物理研究所 [2]
• 金属研究所 [1]
• 半导体研究所 [1]
• 上海光学精密机械研究... [1]

采集方式

• OAI收割 [4]
• iSwitch采集 [1]

内容类型

• 期刊论文 [5]

发表日期

• 2007 [1]
• 2002 [2]
• 1997 [1]
• 1995 [1]

学科主题

• Physics [1]
• 光学薄膜 [1]
• 半导体物理 [1]

筛选

浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 沉积温度对LaF3薄膜性能的影响 期刊论文  OAI收割 强激光与粒子束, 2007, 卷号: 19, 期号: 9, 页码: 1507, 1511 余华; 崔云; 申雁鸣; 齐红基; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：1276/233  |  提交时间：2009/09/22 Crystal structure  Deposition  Grain size and shape  Interferometers  Lanthanum compounds  Refractive index  Residual stresses  Spectrophotometers  Temperature  X ray diffraction   X-ray optics 'owl' and 'trinity' 期刊论文  iSwitch采集 Japanese journal of applied physics part 1-regular papers short notes & review papers, 2002, 卷号: 41, 期号: 7a, 页码: 4742-4749 作者:   收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2019/04/23 X-ray dark-field imaging  Asymmetric reflection monochromator  Analyzer  Refraction contrast  X-ray bright-field imaging  Vertical wiggler  Synchrotron x-radiation  Fz grown silicon  Crystal diffraction index  Crystal thickness   X-ray optics 'Owl' and 'Trinity' 期刊论文  OAI收割 JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS, 2002, 卷号: 41, 期号: 7A, 页码: 4742-4749 作者:  Ando, M;  Hyodo, K;  Sugiyama, H;  Maksimenko, A;  Pattanasiriwisawa, W 收藏  |  浏览/下载：44/0  |  提交时间：2016/06/29 X-ray dark-field imaging  asymmetric reflection monochromator  analyzer  refraction contrast  X-ray bright-field imaging  vertical wiggler  synchrotron X-radiation  Fz grown silicon  crystal diffraction index  crystal thickness   Kinetics of dissociative water adsorption on stepped Si(001), on Si(115), Si(113), Si(5,5,12) and Si(112) 期刊论文  OAI收割 surface science, 1997, 卷号: 381, 期号: 1, 页码: 1-11 Ranke W; Xing YR 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2010/11/17 adsorption kinetics  low energy electron diffraction  low index single crystal surfaces  silicon  surface structure  morphology  roughness  and topography  vicinal single crystal surfaces  visible and ultraviolet photoelectron spectroscopy  water  SCANNING-TUNNELING-MICROSCOPY  CYLINDRICAL SILICON CRYSTAL  MILLER INDEX SURFACES  ROOM-TEMPERATURE  VICINAL SURFACES  ATOMIC-STRUCTURE  H2O  SI(100)  CHEMISORPTION  LEED   DIRECT OBSERVATION OF THE CU-O CHAINS ADSORBED ON A ULTRA-THIN FILM OF CU(110) USING A HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPE 期刊论文  OAI收割 Surface Science, 1995, 卷号: 326, 期号: 3, 页码: L467-L472 R. Guan; R. S. Li; S. H. Xu; S. Y. Li 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2012/04/14 chemisorption  electron-solid interactions  computer simulations  scattering  copper  diffraction  electron microscopy  low index single  crystal surfaces  oxygen  surface structure  chemisorption