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Simulation study on single-event burnout in field-plated Ga2O3 MOSFETs 期刊论文  OAI收割
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2023, 卷号: 149
作者:  Yu, Cheng-hao;  Guo, Hao-min;  Liu, Yan;  Wu, Xiao-dong;  Zhang, Li-long
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Improve on/off ratio of organic heterojunction transistors by adopting single-sandwich configuration 期刊论文  OAI收割
SOLID-STATE ELECTRONICS, 2011, 卷号: 61, 期号: 1, 页码: 65-68
作者:  Shi, Jianwu;  Wang, Hua;  Wang, Haibo;  Tian, Hongkun;  Geng, Yanhou
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