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Impact of within-wafer process variability on radiation response 期刊论文  OAI收割
MICROELECTRONICS JOURNAL, 2011, 卷号: 42, 期号: 6, 页码: 883-888
Hu,ZY; Liu,ZL; Shao,H; Zhang,ZX; Ning,BX; Chen,M; Bi,DW; Zou,SC
收藏  |  浏览/下载:22/0  |  提交时间:2012/04/10
The impact of total ionizing radiation on body effect 期刊论文  OAI收割
MICROELECTRONICS JOURNAL, 2011, 卷号: 42, 期号: 12, 页码: 1396-1399
Ning,BX; Hu,ZY; Zhang,ZX; Liu,ZL; Chen,M; Bi,DW; Zou,SC
收藏  |  浏览/下载:16/0  |  提交时间:2012/04/10