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机构
半导体研究所 [2]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2006 [2]
学科主题
光电子学 [2]
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浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
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Thermal stress analysis for GaInAsP multiple quantum well wafer chemically bonded to Si (100)
期刊论文
OAI收割
journal of applied physics, 2006, 卷号: 100, 期号: 2, 页码: art.no.023513
Zhao HQ (Zhao Hong-Quan)
;
Yu LJ (Yu Li-Juan)
;
Huang YZ (Huang Yong-Zhen)
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提交时间:2010/04/11
ACTIVATED BONDING METHOD
ROOM-TEMPERATURE
EPITAXIAL OVERGROWTHS
SURFACE
CRYSTAL
GAAS
TECHNOLOGY
ENERGY
FILMS
Strain analysis of InP/InGaAsP wafer bonded on Si by X-ray double crystalline diffraction
期刊论文
OAI收割
materials science and engineering b-solid state materials for advanced technology, 2006, 卷号: 133, 期号: 1-3, 页码: 117-123
Zhao HQ (Zhao Hong-Quan)
;
Yu LJ (Yu Li-Juan)
;
Huang YZ (Huang Yong-Zhen)
;
Wang YT (Wang Yu-Tian)
收藏
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浏览/下载:41/0
  |  
提交时间:2010/04/11
InP
Si
X-ray double crystalline diffraction
thermal strain
wafer bonding
OPTOELECTRONIC DEVICES
EPITAXIAL OVERGROWTHS
TEMPERATURE
INTERFACE
STRESSES
VCSELS
SURFACES
ENERGY