机构

• 物理研究所 [6]

采集方式

• OAI收割 [6]

内容类型

• 期刊论文 [6]

发表日期

• 2010 [1]
• 2005 [2]
• 2003 [1]
• 2000 [2]

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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Developing image-contrast theory and analysis methods in high-resolution electron microscopy 期刊论文  OAI收割 PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE, 2010, 卷号: 207, 期号: 12, 页码: 2639 Li, FH 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2013/09/17 INCOMMENSURATE MODULATED STRUCTURES  PHASE-OBJECT APPROXIMATION  EXIT-WAVE RECONSTRUCTION  CRYSTAL-STRUCTURES  ATOMIC CONFIGURATION  MISFIT DISLOCATIONS  LOMER DISLOCATION  FOCUS-VARIATION  FOURIER IMAGES  CORE STRUCTURE   Restoring atomic configuration at interfaces by image deconvolution 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY, 2005, 卷号: 54, 期号: 5, 页码: 445 Tang, CY; Li, FH 收藏  |  浏览/下载：50/0  |  提交时间：2013/09/24 RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY  EXIT-WAVE RECONSTRUCTION  0.1 NM RESOLUTION  FOCUS-VARIATION  GRAIN-BOUNDARY  DISLOCATION  DIFFRACTION  CRYSTALS  HREM  HOLOGRAPHY   Maximum entropy image deconvolution applied to structure determination for crystal Nd1.85Ce0.15CuO4-delta 期刊论文  OAI收割 MICRON, 2005, 卷号: 36, 期号: 5, 页码: 393 Wang, YM; Wang, HB; Li, FH; Jia, LS; Chen, XL 收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2013/09/18 RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY  EXIT WAVE RECONSTRUCTION  SINGLE-CRYSTALS  FOURIER IMAGES  ND2CUO4  GROWTH  HREM   Effect of diffraction crystallography on HREM 期刊论文  OAI收割 ZEITSCHRIFT FUR KRISTALLOGRAPHIE, 2003, 卷号: 218, 期号: 4, 页码: 279 Li, FH 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2013/09/17 RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY  CRYSTAL-STRUCTURE DETERMINATION  PHASE-OBJECT APPROXIMATION  EXIT-WAVE RECONSTRUCTION  IMAGE DECONVOLUTION  LOMER DISLOCATION  FOCUS-VARIATION  CORE STRUCTURE  HRTEM  IMPROVEMENT   Amplitude correction in image deconvolution for determining crystal defects at atomic level 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY, 2000, 卷号: 49, 期号: 1, 页码: 17 Li, FH; Wang, D; He, WZ; Jiang, H 收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2013/09/17 RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY  EXIT-WAVE RECONSTRUCTION  FOCUS-VARIATION  DIFFRACTION  PHASE  MICROGRAPHS  HRTEM   Distinguishing glide and shuffle types for 60 degrees dislocation in semicoductors by field-emission HREM image processing 期刊论文  OAI收割 ULTRAMICROSCOPY, 2000, 卷号: 85, 期号: 3, 页码: 131 Wang, D; Li, FH; Zou, J 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2013/09/17 RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY  EXIT-WAVE RECONSTRUCTION  PHASE-RETRIEVAL  FOCUS-VARIATION  DIFFRACTION  DECONVOLUTION  MICROGRAPHS  CRYSTALS