机构

• 自动化研究所 [1]
• 近代物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 会议论文 [1]
• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2015 [1]
• 2014 [1]

学科主题

• 工科 [1]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Reliability-Based ECC System for Adaptive Protection of NAND Flash Memories 会议论文  OAI收割 Gwalior, 印度, 2015-04-04 - 2015-04-06 作者:  Yuan L(袁柳);  Liu HD(刘怀达);  Jia PG(贾品贵);  Yang YP(杨一平)   |  收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2016/06/16 Error Correcting Code(Ecc)  Flash Memories  Error Patterns  Reliability  Fault Tolerant   Effectiveness and failure modes of error correcting code in industrial 65 um CMOS SRAMs exposed to heavy ions 期刊论文  OAI收割 NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2014, 卷号: 25 作者:  Tong Teng;  Wang Xiao-Hui;  Zhang Zhan-Gang;  Ding Peng-Cheng;  Liu Jie   |  收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2018/07/05 Single Event Upsets (Seu)  Sram  Error Correcting Code (Ecc)  Hamming Code  Effectiveness  Failure Modes