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自动化研究所 [1]
近代物理研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
会议论文 [1]
期刊论文 [1]
发表日期
2015 [1]
2014 [1]
学科主题
工科 [1]
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Reliability-Based ECC System for Adaptive Protection of NAND Flash Memories
会议论文
OAI收割
Gwalior, 印度, 2015-04-04 - 2015-04-06
作者:
Yuan L(袁柳)
;
Liu HD(刘怀达)
;
Jia PG(贾品贵)
;
Yang YP(杨一平)
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Effectiveness and failure modes of error correcting code in industrial 65 um CMOS SRAMs exposed to heavy ions
期刊论文
OAI收割
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2014, 卷号: 25
作者:
Tong Teng
;
Wang Xiao-Hui
;
Zhang Zhan-Gang
;
Ding Peng-Cheng
;
Liu Jie
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