机构

• 半导体研究所 [2]
• 上海微系统与信息技术... [1]

采集方式

• OAI收割 [2]
• iSwitch采集 [1]

内容类型

• 期刊论文 [3]

发表日期

• 2012 [1]
• 2006 [2]

学科主题

• Science & ... [1]
• 光电子学 [1]

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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Fabrication of high quality strained SiGe on Si substrate by RPCVD 期刊论文  OAI收割 CHINESE SCIENCE BULLETIN, 2012, 卷号: 57, 期号: 15, 页码: 1862-1867 Xue, ZY; Chen, D; Liu, LJ; Jiang, HT; Bian, JT; Wei, X; Di, ZF; Zhang, M; Wang, X 收藏  |  浏览/下载：70/0  |  提交时间：2013/04/17 SiGe  epitaxial growth  growth rate  Ge content   Comparison between double crystals x-ray diffraction micro-raman measurement on composition determination of high ge content si1_xgex layer epitaxied on si substrate 期刊论文  iSwitch采集 Journal of materials science & technology, 2006, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 651-654 作者:  Zhao, Lei;  Zuo, Yuhua;  Cheng, Buwen;  Yu, Jinzhong;  Wang, Qiming 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2019/05/12 Si1_xgex  Ge content  Composition determination  Double crystals x-ray diffraction (dcxrd)  Micro-raman measurement   Comparison between double crystals X-ray diffraction micro-Raman measurement on composition determination of high Ge content Si1_xGex layer epitaxied on Si substrate 期刊论文  OAI收割 journal of materials science & technology, 2006, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 651-654 Zhao L (Zhao Lei); Zuo YH (Zuo Yuhua); Cheng BW (Cheng Buwen); Yu JZ (Yu Jinzhong); Wang QM (Wang Qiming) 收藏  |  浏览/下载：44/0  |  提交时间：2010/04/11 Si1_xGex  Ge content  composition determination  double crystals X-ray diffraction (DCXRD)  micro-Raman measurement  BAND-GAP  HETEROSTRUCTURES  SUPERLATTICES  ALLOYS  RELAXATION  SCATTERING  THICKNESS  STRAIN