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机构
上海光学精密机械研究... [5]
光电技术研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [6]
内容类型
期刊论文 [5]
学位论文 [1]
发表日期
2016 [1]
2012 [1]
2008 [1]
2007 [1]
2006 [1]
2005 [1]
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学科主题
光学薄膜 [4]
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浏览/检索结果:
共6条,第1-6条
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镀膜过程真空室气氛分布研究
学位论文
OAI收割
硕士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2016
作者:
郑如玺
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浏览/下载:53/0
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提交时间:2016/11/28
HfO2薄膜
充氧口位置
k-ε模型
数值模拟
蒸发分布
单层二氧化铪(HfO_2)薄膜的特性研究
期刊论文
OAI收割
光电工程, 2012, 卷号: 39, 期号: 2, 页码: 134-140
作者:
艾万君
;
熊胜明
收藏
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2016/11/21
电子束蒸发
离子束辅助沉积
离子束反应溅射
HfO2薄膜
薄膜特性
HfO2的纯度对紫外多层膜反射率的影响
期刊论文
OAI收割
Chin. Opt. Lett., 2008, 卷号: 6, 期号: 3, 页码: 222, 224
袁景梅
;
齐红基
;
赵元安
;
范正修
;
邵建达
收藏
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浏览/下载:1135/161
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提交时间:2009/09/22
光学薄膜
Glow discharge mass spectrum
紫外膜
Ultraviolet multilayer
ZrO2
HfO2
光学性能
薄膜厚度对HfO2薄膜残余应力的影响
期刊论文
OAI收割
稀有金属材料与工程, 2007, 卷号: 36, 期号: 3, 页码: 412, 415
申雁鸣
;
贺洪波
;
邵淑英
;
范正修
;
邵建达
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浏览/下载:1101/176
  |  
提交时间:2009/09/22
HfO2薄膜
HfO2 thin film
残余应力
residual stress
膜厚
thin film thickness
电子束蒸发
electron beam evaporation
沉积温度对电子束蒸发HfO2薄膜残余应力的影响
期刊论文
OAI收割
中国激光, 2006, 卷号: 33, 期号: 6, 页码: 827, 831
申雁鸣
;
贺洪波
;
邵淑英
;
范正修
收藏
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浏览/下载:725/114
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提交时间:2009/09/22
薄膜
HfO2薄膜
残余应力
沉积温度
基底
电子束蒸发
沉积温度对HfO2薄膜残余应力的影响
期刊论文
OAI收割
强激光与粒子束, 2005, 卷号: 17, 期号: 12, 页码: 1812, 1816
申雁鸣
;
贺洪波
;
邵淑英
;
范正修
;
邵建达
收藏
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浏览/下载:566/107
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提交时间:2009/09/22
HfO2薄膜
HfO
2
films
残余应力
Residual stress
沉积温度
Deposition temperature
微结构
Microstructure
X射线衍射
XRD