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近代物理研究所 [5]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2012 [1]
2007 [2]
2005 [2]
学科主题
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共5条,第1-5条
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Charge effect in secondary electron emission from silicon surface induced by slow neon ions
期刊论文
OAI收割
LASER AND PARTICLE BEAMS, 2012, 卷号: 30, 页码: 319-324
作者:
Xiao, GQ
;
Zhang, XA
;
Wang, YY
;
Wang, JG
;
Zhao, YT
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提交时间:2017/03/28
Charge restrain factor
Electron emission yield
Highly charged ions (HCI)
Threshold velocity
The electron emission yield induced by the interaction of highly charged argon ions with silicon surface
期刊论文
OAI收割
ACTA PHYSICA SINICA, 2007, 卷号: 56, 期号: 10, 页码: 5734-5738
作者:
Zhao, Yong-Tao
;
Xiao, Guo-Qing
;
Xu, Zhong-Feng
;
Abdul Qayyum
;
Wang, Yu-Yu
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提交时间:2010/10/29
highly charged ions (HCI)
potential energy deposition
electronic energy loss
the electron yield per ion
The x-ray spectra of hollow atoms
期刊论文
OAI收割
ACTA PHYSICA SINICA, 2005, 卷号: 54, 期号: 1, 页码: 85-88
作者:
Zhao, YT
;
Xiao, GQ
;
Zhang, XA
;
Yang, ZH
;
Chen, XM
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提交时间:2010/10/29
highly charged ions(HCI)
hollow atoms (HA)
x-rays
the yield of single particle