机构

• 计算技术研究所 [1]
• 微电子研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2003 [2]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序 边界扫描测试电路的设计 期刊论文  OAI收割 微电子学, 2003, 卷号: 33, 期号: 1, 页码: 4，71-73,77 作者:  王孜;  刘洪民;  吴德馨   |  收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2010/05/25 边界扫描测试电路  设计方法  光纤通信  时分复用芯片  板级测试  Ieee标准1149.1   一种遵循IEEE 1149．1标准的可测试性设计结构 期刊论文  OAI收割 微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23 作者:  尹志刚;  李华伟;  李晓维   |  收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2023/12/04 IEEE1149.1标准  国际标准  可测试性设计结构  时序电路