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计算技术研究所 [3]
采集方式
OAI收割 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2009 [1]
2007 [2]
学科主题
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浏览/检索结果:
共3条,第1-3条
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Co-optimization of Dynamic/Static Test Power in Scan Test
期刊论文
OAI收割
CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2009, 卷号: 18, 期号: 1, 页码: 54-58
作者:
Wang Wei
;
Han Yinhe
;
Li Xiaowei
;
Fang Fang
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提交时间:2019/12/16
Co-optimization
Test power
Blocking logic
Minimum leakage vector
Leakage current optimization techniques during test based on don't care bits assignment
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2007, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 673-680
作者:
Wang, Wei
;
Hu, Yu
;
Han, Yin-He
;
Li, Xiao-Wei
;
Zhang, You-Sheng
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提交时间:2019/12/16
leakage current
don't care bits
minimum leakage vector
leakage power
Leakage Current Optimization Techniques During Test Based on Don t Care Bits Assignment
期刊论文
OAI收割
Journal of Computer Science and Technology, 2007, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 673-680
作者:
Wei Wang(王伟)
;
Xiao-Wei Li(李晓维)
;
Yin-He Han(韩银和)
;
Yu Hu(胡瑜)
;
You-Sheng Zhang(张佑生)
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提交时间:2010/11/03
Leakage Current
Dont Care Bits
Minimum Leakage Vector
Leakage Power