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Accuracy Improvement of Multi-parameter Estimation in Combined Photocarrier Radiometry and Free Carrier Absorption for Characterization of Silicon Wafers 期刊论文  OAI收割
INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2012, 卷号: 33, 期号: 10-11, 页码: 2076-2081
作者:  Huang, Qiuping;  Li, Bincheng;  Ren, Shengdong
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Modulated free carrier absorption characterization of semiconductor wafers by frequency scans at different pump-to-probe separations 期刊论文  OAI收割
ACTA PHYSICA SINICA, 2009, 卷号: 58, 期号: 9, 页码: 6506-6511
作者:  Li Wei;  Li Bin-Cheng
收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2015/09/21