机构

• 中国科学院大学 [1]
• 上海光学精密机械研究... [1]

采集方式

• iSwitch采集 [1]
• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2005 [2]

学科主题

• 光学薄膜 [1]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Influences of the period of repeating thickness on the stress of alternative high and low refractivity zro2/sio2 multilayers 期刊论文  iSwitch采集 Acta physica sinica, 2005, 卷号: 54, 期号: 7, 页码: 3312-3316 作者:  Shao, SY;  Fan, ZX;  Shao, JD 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2019/05/10 Zro2/sio2 multilayers  Residual stress  Periods of repeating thickness   ZrO2／SiO2多层膜中膜厚组合周期数及基底材料对残余应力的影响 期刊论文  OAI收割 物理学报, 2005, 卷号: 54, 期号: 7, 页码: 3312, 3316 邵淑英; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：1002/181  |  提交时间：2009/09/22 残余应力  ZrO2/SiO2 multilayers  SiO2  residual stress  ZrO2  periods of repeating thickness  多层膜  周期数  组合  膜厚  基底材料  X射线衍射技术  玻璃基底  电子束蒸发  光学干涉仪  应力值  沉积条件  曲率半径  测量分析  石英基底  变化趋势  结构应变  结晶程度  相互作用  折射率  熔石英  压应力  微结构