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• 计算技术研究所 [3]

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• OAI收割 [3]

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• 期刊论文 [3]

发表日期

• 2003 [1]
• 2002 [2]

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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 自动提取RTL级集成电路时序信息 期刊论文  OAI收割 微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 006, 页码: 1 作者:  高燕;  沈理   |  收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2023/12/04 RTL级集成电路  时序信息  自动提取  硬件描述语言  可测试性设计   基于RTL行为模型的测试产生及时延测试方法 期刊论文  OAI收割 中国科学院研究生院学报, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 002, 页码: 198 作者:  李华伟   |  收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2023/12/04 RTL行为模型  测试产生  时延测试  寄存器传输级  有限状态机  自动测试向量产生  故障诊断  集成电路测试   RTL集成电路的时序深度 期刊论文  OAI收割 同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1209 作者:  高燕;  沈理   |  收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2023/12/04 RTL集成电路  高层次测试  硬件描述语言  时序深度  寄存器传输液  芯片设计