机构

• 微电子研究所 [1]
• 高能物理研究所 [1]
• 合肥物质科学研究院 [1]

采集方式

• OAI收割 [3]

内容类型

• 期刊论文 [3]

发表日期

• 2014 [1]
• 2009 [1]
• 2008 [1]

学科主题

• Engineerin... [1]

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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序 A statistical approach to fit Gaussian part of full-energy peaks from Si(PIN) and SDD X-ray spectrometers 期刊论文  OAI收割 SCIENCE CHINA-TECHNOLOGICAL SCIENCES, 2014, 卷号: 57, 期号: 1, 页码: 19-24 作者:  李哲;Li, Z;  Tuo, XG;  Shi, R;  Yang, JB 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2016/04/08 Gaussian distribution  Si(PIN)  SDD  EDXRF  standard deviation of energy resolution   Soft X-ray PHA Diagnostic for the Electron Temperature Measurements on EAST 期刊论文  OAI收割 PLASMA SCIENCE & TECHNOLOGY, 2009, 卷号: 11 -   |  收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2020/10/26 PULSE-HEIGHT ANALYZER  HT-7 TOKAMAK  SYSTEM  EAST  soft X-ray PHA  silicon drift detector (SDD)  electron temperature (T(e))   一种改进了碰撞电离的超高速InP基SHBT SDD模型 期刊论文  OAI收割 半导体学报, 2008, 卷号: 29, 期号: 9, 页码: 5，1799-1803 作者:  葛霁;  金智;  刘新宇;  程伟;  王显泰   |  收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2010/05/27 碰撞电离  温度依赖  超高速inp基shbt  Sdd模型