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机构
半导体研究所 [2]
采集方式
iSwitch采集 [1]
OAI收割 [1]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2002 [2]
学科主题
光电子学 [1]
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浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
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Two-port calibration of test fixtures with different test ports
期刊论文
iSwitch采集
Microwave and optical technology letters, 2002, 卷号: 35, 期号: 4, 页码: 299-302
作者:
Zhen, YC
;
You, LW
;
Yu, L
;
Ning, HZ
收藏
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2019/05/12
Two-port calibration
Microwave network analyzer
Scattering-parameter measurement
Phase uncertainty
Two-port calibration of test fixtures with different test ports
期刊论文
OAI收割
microwave and optical technology letters, 2002, 卷号: 35, 期号: 4, 页码: 299-302
Zhen YC
;
You LW
;
Yu L
;
Ning HZ
收藏
  |  
浏览/下载:40/0
  |  
提交时间:2010/08/12
two-port calibration
microwave network analyzer
scattering-parameter measurement
phase uncertainty
NETWORK-ANALYZER CALIBRATION
LINE