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Photocarrier Radiometry Characterization of Ultra-shallow Junctions (USJ) in Silicon with Excimer Laser Irradiation 期刊论文  OAI收割
INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2015, 卷号: 36, 期号: 5-6, 页码: 1173-1180
作者:  Wang, Qian;  Li, Bincheng;  Ren, Shengdong;  Wang, Qiang
收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2015/09/21
Characterization of Arsenic Ultra-Shallow Junctions in Silicon Using Photocarrier Radiometry and Spectroscopic Ellipsometry 期刊论文  OAI收割
INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2012, 卷号: 33, 期号: 10-11, 页码: 2082-2088
作者:  Huang, Qiuping;  Li, Bincheng;  Gao, Weidong
收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2015/07/10