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采集方式

• OAI收割 [15]

内容类型

• 期刊论文 [12]
• 会议论文 [2]
• 学位论文 [1]

发表日期

• 2016 [1]
• 2013 [1]
• 2012 [1]
• 2011 [1]
• 2007 [2]
• 2006 [2]
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学科主题

• 光学薄膜 [2]
• 材料科学与物理化学 [1]
• 物理化学与绿色催化 [1]

筛选

浏览/检索结果: 共15条，第1-10条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 三门峡虢季墓遗址盐害分析与调查 期刊论文  OAI收割 分析测试技术与仪器, 2016, 卷号: 22, 期号: 2, 页码: 80-89 作者:  钱玲;  夏寅;  胡红岩;  张尚兴;  李振 收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2016/10/24 土遗址  盐害  虢季墓  X 射线荧光光谱  离子色谱  电子能谱  X 射线衍射  扫描电子显微镜  earthen sites  salt damages  Guo Ji Tombs  XRF  IC  XPS  XRD  SEM   沉积温度对电子束物理气相沉积制备YBCO薄膜性能与结构的影响 会议论文  OAI收割 中国力学大会——2013, 中国北京, 2013-08-19 作者:  王连红;  刘崇;  樊菁;  舒勇华;  李帅辉 收藏  |  浏览/下载：44/0  |  提交时间：2014/04/02 YBCO  沉积温度  薄膜结构  性能与结构  超导性能  衬底温度  织构  表面形貌  蒸发源  电子束蒸镀  XRD  自主研制  室温  单晶  两步法  力学研究  射线衍射  致密的  尺寸  纯度   镍基单晶高温合金晶格错配度及叶片残余应力分析 学位论文  OAI收割 硕士, 北京: 中国科学院金属研究所, 2012 王有道 收藏  |  浏览/下载：455/0  |  提交时间：2013/04/12 镍基单晶高温合金  晶格常数  晶格错配度  残余应力  X射线衍射 Nickel-base single-crystal superalloy  Lattice constants  Lattice misfit  Residual stress  XRD   扎当冰川雪坑中不同粒径微粒元素和矿物组成特征 期刊论文  OAI收割 环境科学, 2011, 期号: 11 余光明; 徐建中; 康世昌; 黄杰; 任贾文 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2012/05/21 扎当冰川  不溶性微粒  质子激发X荧光(PIXE)  X射线衍射(XRD)  富集因子  后向轨迹   电动自行车用氢镍电池组的研制 期刊论文  OAI收割 电池工业, 2007, 期号: 06 阎永恒; 周时国; 林则青; 娄豫皖; 夏保佳 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/01/06 ZnO  晶粒大小  层错几率  X射线衍射(XRD)   LaFe_(1-x)Cr_xO_3系列氧化物的EXAFS研究 期刊论文  OAI收割 高能物理与核物理, 2007, 期号: 1, 页码: 101-103 作者:  王嘉鸥;  杜永华;  奎热西;  洪才浩;  谢亚宁 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2015/12/25 ABO_3(钙钛矿结构)  XRD(X射线衍射谱)  EXAFS(扩展X射线吸收精细结构谱)   铝互连线的电迁移问题及超深亚微米技术下的挑战 期刊论文  OAI收割 物理学报, 2006, 期号: 10 张文杰; 易万兵; 吴瑾 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2012/01/06 AB_5合金  微结构  X射线衍射(XRD)   XRD实验条件和数据处理方法对衍射峰位、强度和半高宽的影响 会议论文  OAI收割 第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会, 2006 杨传铮; 汪保国; 张建 收藏  |  浏览/下载：35/0  |  提交时间：2012/01/18 XRD实验 数据处理 衍射峰位 光阑宽度   透明导电薄膜在不同衬底上的性能对比研究 期刊论文  OAI收割 材料保护, 2005, 期号: 7, 页码: 5-7+69 陆峰,徐成海,闻立时,曹洪涛,裴志亮,孙超 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2012/04/12 ZAO薄膜  衬底  直流磁控溅射  性能  XRD衍射分析  电阻率  透射率   沉积温度对HfO2薄膜残余应力的影响 期刊论文  OAI收割 强激光与粒子束, 2005, 卷号: 17, 期号: 12, 页码: 1812, 1816 申雁鸣; 贺洪波; 邵淑英; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：719/119  |  提交时间：2009/09/22 HfO2薄膜  HfO2 films  残余应力  Residual stress  沉积温度  Deposition temperature  微结构  Microstructure  X射线衍射  XRD