机构

• 计算技术研究所 [1]
• 中国科学院大学 [1]
• 沈阳自动化研究所 [1]
• 西安光学精密机械研究... [1]

采集方式

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内容类型

• 会议论文 [2]
• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2020 [1]
• 2013 [1]
• 2006 [2]

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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序 The Method for Calculating Optical Target Center of Weak Contrast Collimating Image in Integrated Diagnosis System 会议论文  OAI收割 Xiamen, PEOPLES R CHINA, 2020-08-25 作者:  Wang, Zhengzhou;  Wang, Li;  Tan, Meng;  Chen, Yongquan;  Li, Gang   |  收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2021/06/04 Integrated diagnosis system  fast automatic alignment of optical path  weak contrast image  center of optical target  Kmeans classification  least square method  circle fitting   Assessment of the Effect of Common Cause Failure and Diversity on Diagnostic Coverage of a Self-checking Pair 会议论文  OAI收割 2013 11th IEEE International Conference on Electronic Measurement & Instruments, Harbin, China, August 16-19, 2013 作者:  Wang K(王锴);  Xu AD(徐皑冬);  Liu MZ(刘明哲);  Song Y(宋岩);  Jin N(金妮) 收藏  |  浏览/下载：37/0  |  提交时间：2013/12/26 automatic diagnosis  diagnostic coverage  common cause failure  diversity  self-checking pair   Embedded test resource for soc to reduce required tester channels based on advanced convolutional codes 期刊论文  iSwitch采集 Ieee transactions on instrumentation and measurement, 2006, 卷号: 55, 期号: 2, 页码: 389-399 作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A 收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2019/05/10 Automatic test equipment  Convolutional code  Diagnosis  Error cancellation  Masking  Unknown bits (x-bits)   Embedded test resource for SoC to reduce required tester channels based on advanced convolutional codes 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2006, 卷号: 55, 期号: 2, 页码: 389-399 作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A   |  收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2019/12/16 automatic test equipment  convolutional code  diagnosis  error cancellation  masking  unknown bits (X-bits)