机构

• 半导体研究所 [2]
• 金属研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [2]
• iSwitch采集 [1]

内容类型

• 期刊论文 [3]

发表日期

• 1998 [3]

学科主题

• 半导体材料 [1]

筛选

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Structural characterization of sige/si single wells grown by disilane and solid-ge molecular beam epitaxy with varied disilane cracking temperature 期刊论文  iSwitch采集 Journal of crystal growth, 1998, 卷号: 194, 期号: 3-4, 页码: 426-429 作者:  Liu, JP;  Kong, MY;  Huang, DD;  Li, JP;  Sun, DZ 收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2019/05/12 X-ray diffraction  Sige/si  Disilane cracking  Dynamic simulation   Structural characterization of SiGe/Si single wells grown by disilane and solid-Ge molecular beam epitaxy with varied disilane cracking temperature 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 1998, 卷号: 194, 期号: 3-4, 页码: 426-429 作者:  Liu, JP;  Kong, MY;  Huang, DD;  Li, JP;  Sun, DZ   |  收藏  |  浏览/下载：69/0  |  提交时间：2021/02/02 X-ray diffraction  SiGe/Si  disilane cracking  dynamic simulation   Structural characterization of SiGe/Si single wells grown by disilane and solid-Ge molecular beam epitaxy with varied disilane cracking temperature 期刊论文  OAI收割 journal of crystal growth, 1998, 卷号: 194, 期号: 3-4, 页码: 426-429 Liu JP; Kong MY; Huang DD; Li JP; Sun DZ 收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2010/08/12 X-ray diffraction  SiGe/Si  disilane cracking  dynamic simulation  PHOTOLUMINESCENCE  SILICON  LAYERS  SI2H6  DISORDERED SUPERLATTICES