机构

• 金属研究所 [3]

采集方式

• OAI收割 [3]

内容类型

• 期刊论文 [3]

发表日期

• 2019 [1]
• 2016 [1]
• 2009 [1]

学科主题

筛选

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Stacking Faults and Growth Twins in Long-Period Stacking-Ordered Structures in Mg-Co-Y Alloys 期刊论文  OAI收割 ADVANCED ENGINEERING MATERIALS, 2019, 卷号: 22, 期号: 4, 页码: 7 作者:  Jin, Qianqian;  Shao, Xiaohong;  Peng, Zhenzhen;  Zhou, Yangtao;  Zhang, Bo   |  收藏  |  浏览/下载：109/0  |  提交时间：2021/02/02 high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy  long-period stacking-ordered structure  magnesium alloys  stacking faults   On the benefit of aberration-corrected HAADF-STEM for strain determination and its application to tailoring ferroelectric domain patterns 期刊论文  OAI收割 ULTRAMICROSCOPY, 2016, 卷号: 160, 页码: 57-63 Tang, Y. L.; Zhu, Y. L.; Man, X. L. 收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2016/04/21 Aberration-corrected scanning transmission electron microscopy  High angle annular dark field (HAADF)  Strain determination  Geometrical phase analysis (GPA)  Ferroelectric domain structure  PbTiO3 films   On the accuracy of maximum entropy reconstruction of high-resolution Z-contrast STEM images 期刊论文  OAI收割 Micron, 2009, 卷号: 40, 期号: 2, 页码: 247-254 X. H. Sang; K. Du; M. J. Zhuo; H. Q. Ye 收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2012/04/13 Scanning transmission electron microscopy  High-angle annular dark-field  image (HAADF)  Image processing  Quantitative electron microscopy  transmission electron-microscopy  dark-field images  grain-boundaries  adf stem  chemistry  silicon